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XDL230菲希爾X射線熒光測厚儀信息
點(diǎn)擊次數(shù)：32 更新時(shí)間：2025-08-01 打印本頁面 返回
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 是普遍適用的能量色散 X 射線測量儀器。它們特別適用于薄涂層的無損厚度測量和分析、批量生產(chǎn)的零件和印刷電路板的測量以及溶液分析。這些儀器非常適合質(zhì)量保證、來料檢驗(yàn)和過程控制方面的測量。
典型應(yīng)用領(lǐng)域：
• 電鍍量產(chǎn)零件的測量 • 薄涂層的檢測，例如裝飾性鍍鉻 • 電子和半導(dǎo)體行業(yè)功能涂層的分析 • 自動(dòng)測量，例如印刷電路板 • 電鍍中的溶液分析 出色的精度和長期穩(wěn)定性是所有 FISCHERSCOPE X-RAY 系統(tǒng)的特點(diǎn)。重新校準(zhǔn)的必要性大大減少，節(jié)省了時(shí)間和精力。通過使用比例計(jì)數(shù)管實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，可以進(jìn)行精確測量。FISCHER 的基本參數(shù)方法允許分析固體和液體樣品以及涂層系統(tǒng)，無需校準(zhǔn)。
XDL230測厚儀能量色散 X 射線熒光測量儀 （EDXRF） 用于確定薄可手動(dòng)作的 XY 平臺(tái)，電機(jī)驅(qū)動(dòng)的 Z 軸
